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芯测科技提供便捷版内存测试方案EZ-BIST

图1、EZ-BIST 流程图　　芯测科技(iSTART)秉持着帮助开发者以更简单、更快速、更低成本的途径实现SOC设计的初衷，提供优化的内存测试电路，从产品设计源头大幅提升测试良率，提高产业竞争力，先

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　　图2、EZ-BIST GUI界面图

（本新闻更新于2026/11/14）

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