第三个章节进一步探讨第六阶段可靠性GigaDevice测试报告中的加速应力测试。除了继续监测栅极漏电流外，在每个间距限定其它器件的参数((VTH 及 IDSS)。在高栅极应力的情况下，这些数据可以看到更全面的器件衰减情况，从而看到多个独立物理故障机理。测试结果表明，氮化镓场效应晶体管(eGaN FET)的栅极是非常稳固及可靠的。

　　宜普电源转换公司首席执行官兼共同创办人Alex Lidow博士说:“氮化镓(eGaN)器件投入量产超过9年，以及在实验室和客户的应用中的测试结果都显示eGaN器件是非常可靠的。客户的应用广泛，例如面向全自动驾驶车辆的激光雷达、4G通信基站及卫星等应用。”

　　Lidow博士继续说:“我们发布这份可靠性测试报告，旨在继续实践我们的承诺 - 监测氮化镓器件以符合业界严格的标准，以及与功率转换工程师分享报告结果-我们确定超过30,000个EPC元件在经过1,800万小时以上的应力测试后，没有任何元件发生故障。”

　　EPC公司的第十阶段可靠性测试报告丰富了之前的九份可靠性测试报告所构建的知识库，并代表我们继续承诺持续对氮化镓技术进行研究、学习及分享氮化镓技术可靠性的的信息。